接触孔技术工艺集成发展过程中的两个关键里程碑是之前的 COSI(钴)为 65NM 技术节点使用 NISI(镍金属硅化物)来降低接触电阻和信号金属硅化物)开始被用作接触金属。 延迟并使用来自 45NM 技术节点的高应力硅硅材料来提高器件性能并用作接触蚀刻停止层(CONTACT ETCH STOP L