测试芯片半导体的应用要求：由于芯片纳米级工艺（例如 12 或 7 纳米工艺）中的结构和方向多种多样，晶圆等离子去胶机器因此在芯片或晶圆工艺中不均匀性尤其明显。同时，Drop Angle Tester还需要拍摄、截图、光学相机等功能。水滴角度测量仪的适用物理特性是能够在上下左右狭窄范围内因质量差而高灵
