半导体 TO 封装中存在的问题主要包括焊缝剥离、虚焊或引线键合强度不足。造成这些问题的原因主要是引线框架和芯片表面的颗粒污染、氧化层、有机物和其他污染。这些存在的污染物，如何提高塑粉附着力如残留物、芯片与框架基板之间的铜引线焊线不完全，或有虚焊等。以下是如何通过解决包装过程中的颗粒物和氧化层等污染物
